ED-XRF 분석
다양한 유기/무기 소재의 연구개발에 관한 업무를 성심껏 도와드릴 것을 약속합니다.
ED-XRF(Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometry, 에너지 분산 엑스선 형광분광법)는 시료에 X-선을 조사한 후, 시료에 포함된 원소에서 발생되는 형광 X-선을 측정하여 원소의 조성 및 함량을 분석하는 장비입니다.
XRF는 비파괴 분석방법으로 시료의 물리적, 화학적 변화 없이 분석할 수 있고, 금속, 토양, 광물, 용액 등 시료의 종류를 가리지 않고 폭넓게 분석이 가능합니다.‘간편 상담문의’ 또는 ‘분석신청 바로가기’를 통해 접수해주시면, 담당연구원으로부터 빠르고 정확한 답변을 받아보실 수 있습니다.
ED-XRF 측정가능 원소
- ED-XRF 분석은 Al~U까지 분석은 가능하나 시료에 따라서 검출이 안 되는 원소가 있을 수 있습니다. 또한 FP법(Fundamental Parameter Method)에 의한 정량법으로 검출된 원소의 함량은 수 % 측정오차가 있을 수 있습니다. 따라서 정확한 함량은 추가적으로 ICP-OES와 같은 습식분석을 권장합니다.
ED-XRF 측정 원리
광원에서 방출된 X-선이 시료에 조사되면 시료에 포함된 원소의 궤도 내 전자를 여기시킵니다. 여기 상태의 전자가 바닥 상태로 돌아가면서 각 원소에 따라 특정 형광 X-선이 방출되며, 검출기에서 형광 X-선의 종류를 구별하고 세기를 측정하여 원소 종류 및 함량을 분석합니다.
원소 함량 분석과 산화물 함량 분석
광석이나 토양, 슬래그와 같은 시료는 자연상태에서 오랜 시간을 걸쳐 서서히 산화되어 각 원소는 산화물 형태로 존재하게 됩니다. XRF는 시료에 포함된 원소의 함량을 분석한 후 각 원소 함량을 산화물의 함량으로 환산하는 방법이 가능합니다. 단, 모든 원소가 산화물 형태로 존재한다고 가정하며, 다른 화합물로 존재하는 경우 분석결과의 오차가 발생할 수 있습니다.
기기 분석 결과 예시
Analysis Result
Element mode
Oxide mode
응용분야
- 금속의 구성원소
- 광물 및 토양의 성분 및 함량
- 미지시료의 구성원소
- 전자제품의 중금속 분석