한국고분자시험연구소

전원소 분석

다양한 유기/무기 소재의 연구개발에 관한 업무를 성심껏 도와드릴 것을 약속합니다.

전원소분석

한국고분자시험연구소㈜에서는 다양한 소재에 대해서 이를 구성하는 원소 또는 불순물로 존재하는 원소의 함량을 분석하기 위한 total solution을 보유하고 있습니다.

모든 물질은 원소의 조합 또는 결합으로 이루어져 있습니다. 이 물질을 구성하는 원소, 또는 잔류해있는 불순물의 정보가 굉장히 중요한 경우가 있습니다. 이런 원소의 정보를 활용하여 화학제품의 분자구조 확인, 제품의 품질관리, 시약의 순도 및 불순물 존재여부, 중금속과 같은 유해물질 존재여부, 시료 표면의 코팅층 원소 확인 또는 금속의 재질 등을 확인할 수 있습니다. ‘간편 상담문의’ 또는 ‘분석신청 바로가기’를 통해 접수해주시면, 담당연구원으로부터 빠르고 정확한 답변을 받아보실 수 있습니다.

Koptri 에서 분석 가능한 원소

정량분석(quantitative analysis)

정량분석장비는 시료에 존재하는 특정 화학종의 절대적인 양 혹은 표준물질 대비 상대적인 양을 결정하는 시험장비입니다. 저희 연구소는 다양한 종류의 정량분석장비를 보유하고 있어 시료의 특성에 맞춰 각 원소들의 함량을 수 ppm 부터 수십 %의 농도까지 정량 할 수 있습니다.

분석명	분석장비	분석범위
무기원소분석	ICP-OES	Li~U까지 한번에 다수의 무기원소를 ppm단위로 정량
	ICP-MS	Li~U까지 한번에 다수의 무기원소를 ppb단위로 정량
	S-OES	Al, Cu, Fe, Ni 계 합금을 원소 20~25종 정량
	수은분석기	Hg을 ppb 수준으로 정량
유기원소분석	EA	유기소재에 대해 C,H,N,S,O를 0.1%~99%까지 정량
	CS분석기	무기소재에 대해 C, S를 ppm 수준으로 정량
	ONH분석기	무기소재에 대해 O, N, H를 ppm 수준으로 정량
	TOC	수용액 시료를 ppm 단위로 TC, IC, TOC 정량
할로겐 분석	IC	수용액 시료에 대해 음이온(Br^-, Cl^-, F^-, NO2^-, NO3^-, PO₄^3-, SO₄^2-)을 ppm 수준으로 정량
할로겐 분석	C-IC	고체시료에 대해 F, Cl, Br, I, S 를 ppm 단위로 정량

표면 원소 screening 장비

표면 원소 screening 장비는 각 원소별 정량분석을 수행하지 않고, 시료의 주성분이 무엇인지, 어떤 원소들이 포함되어 있는지 또는 코팅 층을 이루는 원소는 무엇인지 등과 같은 구성원소를 확인하는 장비입니다. 주로 구성원소만 확인이 가능하고 미량으로 존재하는 원소들은 검출되지 않으나, 적은 양의 시료로도 분석이 가능하고 시료의 손상이 거의 없으며 분석이 비교적 간단하여 빠르게 분석할 수 있습니다. 표면원소 screening 분석 장비로는 XRF, SEM-EDX, XPS 등이 있습니다.

전원소분석 예시

※ 표 좌우 스크롤 사용

시료	분석항목	단위	분석방법	검출한계	분석결과
	Cu (Copper)	-	-	-	Base
	Bi (Bismuth)	mg/kg	ICP-OES	0.1	불검출
	Cd (Cadmium)	mg/kg	ICP-OES	0.1	불검출
	P (Phosphorus)	mg/kg	ICP-OES	0.1	불검출
	Pb (Lead)	mg/kg	ICP-OES	0.1	불검출
	Se (Selenium)	mg/kg	ICP-OES	0.1	불검출
	Zn (Zinc)	mg/kg	ICP-OES	0.1	불검출
	Te (Tellurium)	mg/kg	ICP-OES	0.1	불검출
	Hg (Mercury)	mg/kg	Automatic Mercury Analyzer	0.01	불검출
	S (Sulfur)	%	Carbon & Sulfur determinator	0.001	0.001
	O (Oxygen)	%	ONH Determinator	0.001	0.001

전원소 분석

Koptri 에서 분석 가능한 원소

정량분석(quantitative analysis)

표면 원소 screening 장비

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