SEM분석
다양한 유기/무기 소재의 연구개발에 관한 업무를 성심껏 도와드릴 것을 약속합니다.
SEM은 시료 표면를 확인할 수 있어 미세구조분석, 고분자 morphology, 필름의 단면분석, 입도분석 등이 가능하며, EDS 장비로 미지시료의 정성, 정량분석이 가능합니다.
‘간편 상담문의’ 또는 ‘분석신청 바로가기’를 통해 접수해주시면, 담당연구원으로부터 빠르고 정확한 답변을 받아보실 수 있습니다.
SEM 분석 서비스 개요
| 사용기기 | 조건 | 분석 내용 |
|---|---|---|
| SEM (Scanning Electron Microscope) |
배율 : x 30 ~ x 5 000 | 시료 표면, 단면, 미세 부위 분석 가능 |
SEM은 높은 에너지의 전자빔을 이용하여 전가가 시편과 충돌할 때 발생하는 이차전자, 반사전자, X선 등을 검출하여 확대상을 촬영하는 장비입니다. 저배율(x 30)에서 고배율(x 5 000 이상)까지 다양한 배율에서 관찰이 가능하며, 일반적으로 저배율에서 넓은 면적을 관찰한 후 보고자 하는 미세영역을 고배율로 관찰합니다.
SEM 영상은 이차원 데이터 임에도 불구하고 마치 3차원 이미지와 유사하여 물체를 훨씬 정확하게 관찰할 수 있다는 장점이 있습니다. 따라서 요철이 심한 파단면이나 표면조도가 큰 시료 관찰에도 유리합니다.
그밖에 SEM은 특정 X선을 검출할 수 있는 EDX 검출기를 장착해 사용이 가능합니다. 이는 짧은 시간에 미세영역의 구성성분(원소)을 분석할 수 있다는 장점이 있습니다.
SSEM은 표면 뿐만 아니라 단면 전처리를 통한 시료 단면 확인에도 유용하게 활용이 되고 있습니다. 다층필름의 각 층의 두께 측정, 도금 두께 측정, 기공의 크기 확인 등 다양한 분석이 가능합니다.
SEM 분석예
무기 분말
실리콘 분말
PVDF 필름 표면
금속 표면
필름 단면 기공 확인
다층 필름의 층별 두께 확인
