TEM(Transmission Electron Microscope : 투과전자현미경)은 고전압으로 가속된 전자 빔을 관찰하려는 대상에 투과하여 수십만 배 이상으로 확대, 관찰할 수 있는 전자현미경입니다.

기본적으로 고분자 및 금속재료의 미세구조를 관찰할 수 있습니다. TEM 에 EDX(Energy Dispersive X-ray Spectrometer)를 장착하는 경우에는 관찰중인 영역에서 관찰 대상물의 화학조성 및 정량분석도 가능합니다.‘간편 상담문의’ 또는 ‘분석신청 바로가기’를 통해 접수해주시면, 담당연구원으로부터 빠르고 정확한 답변을 받아보실 수 있습니다.