AFM
다양한 유기/무기 소재의 연구개발에 관한 업무를 성심껏 도와드릴 것을 약속합니다.
한국고분자시험연구소㈜에서는 고분자를 비롯한 유무기화학소재(Organic/Inorganic Materials)의 표면특성 분석을 진행하고 있습니다.
규격시험뿐만 아니라 비규격시험, 맞춤분석 또한 가능합니다. ‘간편 상담문의’ 또는 ‘분석신청 바로가기’를 통해 접수해주시면, 담당연구원으로부터 빠르고 정확한 답변을 받아보실 수 있습니다.
미세표면분석
※ 표 좌우 스크롤 사용
| 시험항목 | 시험내용 | 시편 준비 |
|---|---|---|
| AFM을 이용한 표면조도 | 캔틸레버를 이용하여 원자간에 작용하는 척력과 인력의 작용(van der waals force)에 의해 다양한 반도체 소재 및 박막의 표면분석에 활용된다. 표면의 마찰력과 같은 물리 적 표면 특성 뿐만 아니라 bias를 인가하여 전기적인 표면 특성을 분석할 수 있다. |
크기: 5*5 mm ~ 10*10 mm 두께: 5 mm 이하 눈으로 봐도 거친 시료, 점착성 시료 불가 (Tip 고장 원인) 최대 45 ㎛ *45 ㎛ 범위 이내 패턴과 같은 모양이 있어야 함. 1) |
- 의뢰자 결정 사항 : 분석 범위(최대 45 ㎛ *45 ㎛) 및 측정 포인트 수량
(미결정 시, ① 45 ㎛ * 45 ㎛ 범위, ② 적정 범위 => 총 2 포인트 측정) - 1) 그 이상의 크기일 경우에는 surface profiler를 통한 조도(거칠기) 측정 방법 사용
AFM분석의 예시 (3차원 표면구조와 표면거칠기 분석)
AFM분석의 예시 (2차원 표면구조와 표면거칠기 분석)
범위: 3 x 3 ㎛
- Ra : Average Roughness (중심선 평균 거칠기)
- Rq : Root Mean Square Roughness (제곱평균제곱근 거칠기)