두께측정
다양한 유기/무기 소재의 연구개발에 관한 업무를 성심껏 도와드릴 것을 약속합니다.
한국고분자시험연구소㈜에서는 고분자를 비롯한 유무기 화학소재(Organic/Inorganic Materials)의 표면특성 시험분석을 서비스하고 있습니다. 초미세박막, 마이크로필름이나 도막, 적층구조 등의 두께가 얇은 샘플 및 코팅층에 대한 두께 분석 또한 가능합니다.
‘간편 상담문의’ 또는 ‘분석신청 바로가기’를 통해 접수해주시면, 담당연구원으로부터 빠르고 정확한 답변을 받아보실 수 있습니다.
두께측정
profiler시험은 시료표면위의 단차가있는 박막의 두께를 측정하는 분석으로, 탐침이 시료의 표면을 긁고지나감으로써 표면단자의 변화로 발생되는 압력을 감지하여 단차의 두께를 측정하는 장비입니다. Surface profiler 시험은 시편표면의 구조를 2차원그래프로 구현이 가능합니다.
SEM – EDX 시험은 각기다른재질과 특성을 가진고 분자 및 금속필름 각층의 원소조성 및 두께를 확인합니다.
시험규격 : Surface profiler를 이용한 두께측정(KS D ISO 4518), SEM – EDX를 이용한 단면분석
측정 예시
두께 측정
| 항목 | 설명 | 샘플 정보 | 규격 |
|---|---|---|---|
| Surface profiler를 이용한 두께 측정 |
- 스타일러스(Tip)가 시료를 scan하면서 코팅된 박막의 두께, 표면거칠기 등의 시료의 표면특성을 분석하는데 사용됩니다. - 해상도 : 0.100 μm/sample - 힘 : 1.00 mg (조정가능 : Stylus Force :0.03~15.0 mg, Speed : 0.01 ~ 0.40 mm/sec, Range : 2.5 ~1200 microns, Length : ~100 mm) |
크기 : 50 mm * 50 mm * 3 mm 이내 (가로 * 세로 * 높이) |
Surface profiler를이용한두께측정(KS D ISO 4518) |
| SEM 단면을 이용한 두께 분석 |
-각 층의 SEM-EDX 분석을 통해 다층필름 각 층의 원소 조성 (원소 성분)을 확인합니다. C, O 등의 유기 원소와 Al, Si, Fe, Ni 등의 무기 원소를 확인함으로써 각 층의 유∙무기를 구분하게 됩니다. - SEM-EDX 분석으로 무기 원소층의 조성 및 두께를 확인합니다. |
단면을 이용한 분석으로 분석원과 협의 필요 | SEM – EDX를이용한단면분석 |
결과 예시
Surface profiler분석
SEM-EDX 분석
